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1000度高溫熱臺 紅外發(fā)射率測試 硅片退火爐主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結構的變化。這類設備能夠在控制的真空或氣氛環(huán)境中加熱樣品至高達1000度攝氏度，同時利用顯微鏡進行實時或實驗后的微觀結構...

超高溫1200℃真空測試腔 器件高溫測試系統(tǒng)主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結構的變化。這類設備能夠在控制的真空或氣氛環(huán)境中加熱樣品至高達1000度攝氏度，同時利用顯微鏡進行實時或實驗后的微觀結構觀...

1000度高溫熱臺 真空退火爐 快速升溫爐主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結構的變化。這類設備能夠在控制的真空或氣氛環(huán)境中加熱樣品至高達1000度攝氏度，同時利用顯微鏡進行實時或實驗后的微觀結構觀察...

濕度環(huán)境模擬 氣體加濕 氣敏傳感器測試，可以外接兩種或多種氣體,采用質量流量計控制氣體流量,氣路管道采用316拋光管制作耐腐蝕性強.氣路接頭采用全不銹鋼雙卡套快速接頭,方便連接且不易泄漏 系統(tǒng)可耐0...

渦旋無油真空泵無油運作：由于干泵在運作過程中不需要使用油液，因此避免了油污染，尤其適用于需要干凈或無污染真空環(huán)境的應用，如食品加工、藥品生產(chǎn)和半導體制造等領域。

小型真空探針臺 太陽能電池測試夾具，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）

常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備，通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性...

大氣探針臺 電信號測試是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備，通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試，從而為...

環(huán)境敏感性材料真空測試腔體主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺，臺面為50x50mm，臺面最高可升溫到最高350℃。該腔體設計有進氣口和抽真空接口...

電信號測試真空腔體主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺，臺面為50x50mm，臺面最高可升溫到最高350℃。該腔體設計有進氣口和抽真空接口和2-4...